課程資訊
課程名稱
電子微探分析一
ELECTRON MICROPROBE ANALYSIS (I) 
開課學期
93-2 
授課對象
理學院  地質科學研究所  
授課教師
陳正宏 
課號
Geo7030 
課程識別碼
224 M2030 
班次
 
學分
全/半年
半年 
必/選修
選修 
上課時間
 
上課地點
 
備註
 
 
課程簡介影片
 
核心能力關聯
核心能力與課程規劃關聯圖
課程大綱
為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
課程概述

一、課程簡介:內容電子微探分析係以非破壞性之方法檢測固體物質標本內微小區域(最小可達10微米)之化學成分,故可對物質之雜質、包體、環帶變化、凝析相等之元素變化提供即時資料。課程共分兩大部分,第一部分說明電子微探儀各部之原理及功能,包括真空系統、傳統光學系統、電子光學系統、偵測系統及資料儲存系統。第二部分說明元素的定性及定量分析方法,包含經驗公式校正,Bence-Albee校正及ZAF校正等細節。本課程必需輔以每週約6小時的實習,以實際的儀器操作來達到數學的目的。

二、先修課程:預修課程本課程必需配合實習課程一起修習,否則毫無益處。

三、參考書目:教科書使用教材主要均為原版英文教科書,諸如
(1) Birk, L.S.著“Electron probe microanalysis”, 2nd edit.,
John Wiley,
(2) Andersen, C.A.著“Microprobe analysis”, John Wiley,
(3) Bertin, E.P.著“Introduction to X-ray spectrometric
analysis”, Plenum Press,
(4) Hren, J.J.等合著“Introduction to analytical electron
microscopy”, Plenum Press等,這些書籍在總圖書館內均可找到。

四、成績評量方式以期末考成績為準。

五、預修課程 本課程必需配合實習課程一起修習,否則毫無益處。 

課程目標
 
課程要求
 
預期每週課後學習時數
 
Office Hours
 
參考書目
 
指定閱讀
 
評量方式
(僅供參考)
   
課程進度
週次
日期
單元主題
無資料