課程資訊
課程名稱
電子微探分析一
ELECTRON MICROPROBE ANALYSIS (I) 
開課學期
96-1 
授課對象
理學院  地質科學研究所  
授課教師
陳正宏 
課號
Geo7030 
課程識別碼
224EM2030 
班次
 
學分
全/半年
半年 
必/選修
選修 
上課時間
星期二3,4(10:20~12:10) 
上課地點
地質315 
備註
本課程以英語授課。
總人數上限:15人 
 
課程簡介影片
 
核心能力關聯
核心能力與課程規劃關聯圖
課程大綱
為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
課程概述

以非破壞性之方法檢測固體物質內微小區域(微米級)之元素定性及定量分析與化學成分變化。 

課程目標
對物質之雜質、包體、環帶變化、凝析相等之元素變化提供即時資料 
課程要求
配合實習課程一起修習 
預期每週課後學習時數
 
Office Hours
 
參考書目
Hren, J.J.等合著“Introduction to analytical electron microscopy”, Plenum Press 
指定閱讀
 
評量方式
(僅供參考)
   
課程進度
週次
日期
單元主題
第1週
   Introduction 
第2週
   Electron optic system 
第3週
   Electron optic system 
第4週
   Vaccum system 
第5週
   Light optic system 
第6週
   Spectrometer system 
第7週
   Spectrometer system 
第8週
   E-beam and solid surface interactions 
第9週
   X-ray detecting system 
第10週
   Interference of X-ray lines 
第11週
   Paule height analysis 
第12週
   Dead-time corrections 
第13週
   Absorption and fluorescence corrections 
第14週
   The use of calibration curves 
第15週
   Bence-Albee correction method 
第16週
   ZAF corrections 
第17週
   The EMPADR program 
第18週
   Final examination