課程名稱 |
電子微探分析一 ELECTRON MICROPROBE ANALYSIS (I) |
開課學期 |
96-1 |
授課對象 |
理學院 地質科學研究所 |
授課教師 |
陳正宏 |
課號 |
Geo7030 |
課程識別碼 |
224EM2030 |
班次 |
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學分 |
2 |
全/半年 |
半年 |
必/選修 |
選修 |
上課時間 |
星期二3,4(10:20~12:10) |
上課地點 |
地質315 |
備註 |
本課程以英語授課。 總人數上限:15人 |
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課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
以非破壞性之方法檢測固體物質內微小區域(微米級)之元素定性及定量分析與化學成分變化。 |
課程目標 |
對物質之雜質、包體、環帶變化、凝析相等之元素變化提供即時資料 |
課程要求 |
配合實習課程一起修習 |
預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
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指定閱讀 |
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參考書目 |
Hren, J.J.等合著“Introduction to analytical electron microscopy”, Plenum Press |
評量方式 (僅供參考) |
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週次 |
日期 |
單元主題 |
第1週 |
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Introduction |
第2週 |
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Electron optic system |
第3週 |
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Electron optic system |
第4週 |
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Vaccum system |
第5週 |
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Light optic system |
第6週 |
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Spectrometer system |
第7週 |
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Spectrometer system |
第8週 |
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E-beam and solid surface interactions |
第9週 |
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X-ray detecting system |
第10週 |
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Interference of X-ray lines |
第11週 |
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Paule height analysis |
第12週 |
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Dead-time corrections |
第13週 |
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Absorption and fluorescence corrections |
第14週 |
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The use of calibration curves |
第15週 |
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Bence-Albee correction method |
第16週 |
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ZAF corrections |
第17週 |
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The EMPADR program |
第18週 |
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Final examination |
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