|
課程名稱 |
電子微探分析一
ELECTRON MICROPROBE ANALYSIS (I) |
|
開課學期 |
96-1 |
|
授課對象 |
理學院 地質科學研究所 |
|
授課教師 |
陳正宏 |
|
課號 |
Geo7030 |
|
課程識別碼 |
224EM2030 |
|
班次 |
|
|
學分 |
2 |
|
全/半年 |
半年 |
|
必/選修 |
選修 |
|
上課時間 |
星期二3,4(10:20~12:10) |
|
上課地點 |
地質315 |
|
備註 |
本課程以英語授課。
總人數上限：15人 |
|
|
|
|
課程簡介影片 |
|
|
核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
|
課程大綱
|
|
為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
|
|
課程概述 |
以非破壞性之方法檢測固體物質內微小區域（微米級）之元素定性及定量分析與化學成分變化。 |
|
課程目標 |
對物質之雜質、包體、環帶變化、凝析相等之元素變化提供即時資料 |
|
課程要求 |
配合實習課程一起修習 |
|
預期每週課後學習時數 |
|
|
Office Hours |
|
|
指定閱讀 |
|
|
參考書目 |
Hren, J.J.等合著“Introduction to analytical electron microscopy”, Plenum Press |
|
評量方式
(僅供參考) |
|
|
週次 |
日期 |
單元主題 |
|
第1週 |
|
Introduction |
|
第2週 |
|
Electron optic system |
|
第3週 |
|
Electron optic system |
|
第4週 |
|
Vaccum system |
|
第5週 |
|
Light optic system |
|
第6週 |
|
Spectrometer system |
|
第7週 |
|
Spectrometer system |
|
第8週 |
|
E-beam and solid surface interactions |
|
第9週 |
|
X-ray detecting system |
|
第10週 |
|
Interference of X-ray lines |
|
第11週 |
|
Paule height analysis |
|
第12週 |
|
Dead-time corrections |
|
第13週 |
|
Absorption and fluorescence corrections |
|
第14週 |
|
The use of calibration curves |
|
第15週 |
|
Bence-Albee correction method |
|
第16週 |
|
ZAF corrections |
|
第17週 |
|
The EMPADR program |
|
第18週 |
|
Final examination |
|