1. 課程簡介與緒論 (Introduction) (吳紀聖)
2. 原子力顯微儀(AFM) (陳立仁)
2.1 穿隧效應
2.2 穿隧效應之應用(掃描式穿隧顯微鏡學)
2.3 原子力顯微鏡(AFM)
基本概念介紹;定力操作模式與定高操作模式;儀器計測法(懸臂樑式探測法與壓電陶瓷);接觸模式(Contact mode)與流動槽;輕叩模式(Tapping mode)。
2.4側力顯微鏡學(LFM)
2.5相差成像(phase imaging)
2.6實驗說明
3. 掃描式電子顯微鏡(SEM)分析:(許曉萍)
3.1 緒論
3.2 電子顯微鏡的分類及其功能
3.3 電子束與物質之作用
3.4 電子顯微鏡、光學顯微鏡及X光繞射儀之特性與功能比較
3.5 電子顯微鏡之機台構造
3.6電子顯微鏡照片之分析
3.7 實驗說明
4. X射線光電子光譜(XPS)與螺旋電子光譜(Auger)進行表面分析:(戴子安)
4.1表面分析簡介:
表面的定義;表面敏度;儀器計測法。
4.2 X射線光電子光譜學:
X射線誘導光電子;結合能與化學轉移;光譜特徵。
4.3 螺旋電子光譜學:
電子之螺旋程序;深度剖面解析
4.4 實驗說明
5. 結晶性薄膜製備與分析 (Fabrication and Characterization of Crystalline Thin Films):(康敦彥)
5.1結晶性薄膜簡介:
結晶性有機薄膜與無機薄膜之常見製備手法與應用
5.2晶體繞射與散射簡介:
簡介結晶學術語與繞射、散射之基本概念
5.3薄膜掠角散射簡介:
以掠角散射分析薄膜之結晶性與晶體方向性
5.4各國同步輻射設施簡介
簡介各國同步輻射實驗室
5.5實驗說明
6. FTIR分析應用與圖樣化薄膜製備 (廖英志)
6.1 FTIR原理
6.2 FTIR儀器簡介
6.3 FTIR分析與應用
6.4大面積薄膜製備: 刮刀塗布、狹縫式塗佈、旋轉塗佈
6.6圖樣化薄膜: 網印、滾印及噴墨塗布
6.7圖樣化薄膜之應用
7. X光與中子反射及同步輻射掠角X光散射在薄膜層狀及奈米結構的解析應用(鄭有舜)
7.1 X光與中子反射之薄膜層狀結構分析
7.2 掠角小角度X光散射之薄膜奈米結構分析
7.3 同步輻射掠角小角/廣角度X光散射儀器應用介紹
8. 表面電漿共振 (SPR): (王勝仕)
8.1簡介
表面電漿共振之原理、表面電漿共
振之配置
8.2生物分子間之交互作用
基本定義及原理介紹、結合常數之性質與決定
8.3應用表面電漿共振於生物分子間之交互作用
8.4表面電漿共振數據分析
8.5研究相關範例
8.6 實驗說明
9. X光繞射分析(XRD): (吳紀聖)
9.1 X光繞射原理 :
9.2 X光繞射晶相分析
9.3 X光繞射晶向與晶粒尺寸分析
9.4研究範例
9.5實驗說明
10. 期中考 4/27/2017
11. X光繞射薄膜晶相分析實驗
12. 薄膜之製作實驗
13. 原子力顯微儀
14. 以XPS與Auger進行表面分析實驗
15. 掃描式電子顯微鏡(SEM)分析實驗
16. 表面電漿共振實驗
17. 期末考 6/22/2017 |