課程名稱 |
電子顯微鏡學 Electron Microscopy |
開課學期 |
104-1 |
授課對象 |
工學院 材料科學與工程學研究所 |
授課教師 |
顏鴻威 |
課號 |
MSE7015 |
課程識別碼 |
527 M1270 |
班次 |
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學分 |
3 |
全/半年 |
半年 |
必/選修 |
選修 |
上課時間 |
星期五2,3,4(9:10~12:10) |
上課地點 |
工綜B03 |
備註 |
限碩士班以上 總人數上限:50人 |
Ceiba 課程網頁 |
http://ceiba.ntu.edu.tw/1041MSE7015_ |
課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
This course will deliver the conventional and advanced knowledge and techniques of electron microscopy for post-graduate students of materials science background. |
課程目標 |
1. Configuration of Electron Microscopy
2. Interaction between Materials and Electron
3. Diffraction
4. Data processing
5. Microscopy policy |
課程要求 |
1. Lecture topics
2. Additional readings
3. Homework assignments
4. Tests
5. Orals |
預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
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參考書目 |
Reference Book
1. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials, 2nd Edition; Brent Fultz, James M. Howe, 2001; ISBN 3-540-67841-7.
2. 近代穿透式電子顯微鏡實務 2nd Edition; 鮑忠興 & 劉思謙; ISBN 9789865937225.
3. Electron Beam Analysis of Materials, 2nd Edition, M.H. Loretto; ISBN 0-412-47790-4.
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指定閱讀 |
Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science: Part1~Part4; David, B. Williams & C. Barry CarterISBN 978-0-387-76501-3
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評量方式 (僅供參考) |
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