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課程名稱 |
高科技產業材料應用與分析
Materials Applications and Analysis in High-tech Industry |
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開課學期 |
104-1 |
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授課對象 |
工學院 應用力學研究所 |
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授課教師 |
陳建彰 |
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課號 |
AM7058 |
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課程識別碼 |
543 M5240 |
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班次 |
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學分 |
3 |
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全/半年 |
半年 |
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必/選修 |
選修 |
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上課時間 |
星期五6,7,8(13:20~16:20) |
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上課地點 |
應109 |
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備註 |
總人數上限：60人 |
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Ceiba 課程網頁 |
http://ceiba.ntu.edu.tw/1041AM7058_MatAppAna |
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課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
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課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
本學期的課程將著重在半導體材料與元件物理，材料分析工具，以及電漿製程技術。在進入半導體材料與元件物理的課程之前，會先簡介量子物理及固態物理。 |
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課程目標 |
在本課程中，學生將學習基本的半導體材料與元件物理，材料分析工具，以及電漿製程技術。 |
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課程要求 |
普物、普化、工程數學 |
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預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
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參考書目 |
☆ Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, R. E. Lee, Prentice-
Hall, 1993.
☆ Elements of X-ray Diffraction, B. D. Cullity, Addison Wesley.
☆ Principles of instrumental analysis, by D. A. Skoog, F. J. Holler, S. R.
Crouch, Belmont, CA: Thomson Brooks/Cole, 2007.
Instrumental Methods of Analysis, H. H. Willard, L. L. Merritt Jr, J. A. Dean,
F. A. Settle Jr., Wadsworth.
Surface analysis techniques and applications, edt by W. Neagle, D. R. Randell,
Cambridge, Royal Society of Chemistry, 1990.
An introduction to surface analysis by XPS and AES, by J. F. Watts and J.
Wolstenholme, New York: J. Wiley, 2003.
材料分析，汪建民 |
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指定閱讀 |
上課講義、論文 |
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評量方式
(僅供參考) |
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No. |
項目 |
百分比 |
說明 |
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1. |
上課參與討論 |
20% |
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2. |
專題報告與討論 |
50% |
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3. |
期末書面報告 |
30% |
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週次 |
日期 |
單元主題 |
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第1週 |
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課程簡介 |
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第2週 |
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基礎材料 |
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第3週 |
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基礎材料 |
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第4週 |
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基礎材料 |
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第5週 |
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基礎材料 |
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第6週 |
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材料結構分析 |
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第7週 |
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材料結構分析 |
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第8週 |
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材料結構分析 |
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第9週 |
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材料表面分析 |
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第10週 |
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材料表面分析 |
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第11週 |
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材料表面分析 |
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第12週 |
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材料化學分析 |
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第13週 |
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材料化學分析 |
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第14週 |
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材料化學分析 |
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第15週 |
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材料分析專題:半導體工程 |
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第16週 |
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材料分析專題:軟性電子元件 |
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第17週 |
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材料分析專題:太陽能電池 |
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