課程名稱 |
積體電路系統測試 Vlsi System Testing |
開課學期 |
99-2 |
授課對象 |
電機資訊學院 電機工程學研究所 |
授課教師 |
黃俊郎 |
課號 |
EEE5011 |
課程識別碼 |
943 U0110 |
班次 |
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學分 |
3 |
全/半年 |
半年 |
必/選修 |
選修 |
上課時間 |
星期四6,7,8(13:20~16:20) |
上課地點 |
博理214 |
備註 |
總人數上限:30人 |
Ceiba 課程網頁 |
http://ceiba.ntu.edu.tw/992SysTesting |
課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
1. VLSI測試概論
2. 錯誤模型與模擬
3. 內建自我測試
4. 記憶體測試
5. ADC/DAC測試
6. 高速串列I/O測試 |
課程目標 |
本課程介紹積體電路系統測試之觀念及技術,內容包含可測試性設計(Design-for-Test)、內建自我測試(Built-In Self-Test)、記憶體測試、類比/混模電路測試及系統晶片測試技術,適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。 |
課程要求 |
1. 預修課程: 邏輯電路設計、電子學
2. 除了上課外,修課學生必須於閱讀指定的論文或文件並進行報告。
3. 修課學生需完成指定的專題作業。 |
預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
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指定閱讀 |
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參考書目 |
教科書:
L.T. Wang, C.W. Wu, and X. Wen, VLSI Test Principles and Architectures, Morgan Kaufmann Publishers, 2006.
參考書目:
M.L. Bushnell and V.D. Agrawal, Essentials of Electronic Testing, Kluwer Academic Publishers, 2000.
M. Burns and G. W. Roberts, An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement, Oxford University Press, 2001.
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評量方式 (僅供參考) |
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週次 |
日期 |
單元主題 |
第1週 |
2/24 |
Overview |
第2週 |
3/03 |
Design-for-Test |
第3週 |
3/10 |
Built-In Self-Test<br>
Reading Assignment Presentation |
第4週 |
3/17 |
Test Compression<br>
Memory Testing |
第5週 |
3/24 |
Memory Testing (cont'd)<br>
Reading Assignment Presentation |
第6週 |
3/31 |
Memory Testing (cont'd) |
第7週 |
4/07 |
Coherent Sampling<br>
Reading Assignment Presentation |
第8週 |
4/14 |
Static ADC/DAC Testing |
第9週 |
4/21 |
AMS Testing<br>
Reading Assignment Presentation |
第10週 |
4/28 |
AMS Testing<br>
Reading assignment presentation |
第11週 |
5/05 |
停課(VTS) |
第12週 |
5/12 |
High-speed serial link testing |
第13週 |
5/19 |
期中考<br>
範圍:至AMS Testing<br>
方式:open book |
第14週 |
5/26 |
High Speed Serial Link Testing |
第15週 |
6/02 |
Low power testing |
第16週 |
6/09 |
Software-Based Self-Testing |
第18週 |
06/23 |
期末報告 |
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