課程名稱 |
積體電路系統測試 Vlsi System Testing |
開課學期 |
101-2 |
授課對象 |
電機資訊學院 電子工程學研究所 |
授課教師 |
黃俊郎 |
課號 |
EEE5011 |
課程識別碼 |
943 U0110 |
班次 |
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學分 |
3 |
全/半年 |
半年 |
必/選修 |
選修 |
上課時間 |
星期四6,7,8(13:20~16:20) |
上課地點 |
博理214 |
備註 |
總人數上限:30人 |
Ceiba 課程網頁 |
http://ceiba.ntu.edu.tw/1012SysemTesting |
課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
課程大綱
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課程概述 |
1. VLSI測試概論
2. 錯誤模型與模擬
3. 自動測試圖樣產生技術
4. 內建自我測試
5. 記憶體測試
6. 類比電路測試
7. ADC/DAC測試 |
課程目標 |
本課程介紹積體電路系統測試之觀念及技術,內容包含可測試性設計(Design-for-Test)、內建自我測試(Built-In Self-Test)、記憶體測試、類比/混模電路測試及系統晶片測試技術,適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。 |
課程要求 |
1. 成績評量方式
Homework 20%
Midterm: 35%
Report & presentation: 35%
Attendance: 10%
2. 預修課程:
邏輯電路設計、電子學
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預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
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指定閱讀 |
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參考書目 |
教科書: L.T. Wang, C.W. Wu, and X. Wen, VLSI Test Principles and Architectures, Morgan Kaufmann Publishers, 2006.
參考書目: M.L. Bushnell and V.D. Agrawal, Essentials of Electronic Testing, Kluwer Academic Publishers, 2000.
M. Burns and G. W. Roberts, An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement, Oxford University Press, 2001.
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評量方式 (僅供參考) |
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週次 |
日期 |
單元主題 |
第1週 |
2/21 |
Introduction |
第2週 |
2/28 |
和平紀念日 |
第3週 |
3/07 |
Introduction (cont'd)<br>
Design-for-Test |
第4週 |
3/14 |
Design-for-Test (cont'd) |
第5週 |
3/21 |
Built-In Self-Test |
第6週 |
3/28 |
Built-In Self-Test (cont'd) |
第7週 |
4/04 |
婦幼節 |
第8週 |
4/11 |
Built-In Self-Test (cont'd)<br>
Memory Testing |
第9週 |
4/18 |
Seminar: Challenges and Solutions for Embedded SRAM Design |
第10週 |
4/25 |
Memory Testing (cont'd) |
第11週 |
5/02 |
Memory Testing (cont'd) |
第12週 |
5/09 |
Memory Testing (cont'd) <br>
Coherent Sampling |
第13週 |
5/16 |
Coherent Sampling (cont'd)<br>
Static ADC/DAC Testing |
第14週 |
5/23 |
Static ADC/DAC Testing (cont'd) <br>
AMS Testing |
第15週 |
5/30 |
期中考<br>
ETS |
第16週 |
6/06 |
DAC |
第17週 |
6/13 |
AMS Testing<br>
High-Speed I/O Testing |
第18週 |
6/20 |
期末報告 |
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