課程名稱 |
積體電路系統測試 Vlsi System Testing |
開課學期 |
103-2 |
授課對象 |
電機資訊學院 電子工程學研究所 |
授課教師 |
黃俊郎 |
課號 |
EEE5011 |
課程識別碼 |
943 U0110 |
班次 |
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學分 |
3 |
全/半年 |
半年 |
必/選修 |
選修 |
上課時間 |
星期四6,7,8(13:20~16:20) |
上課地點 |
博理214 |
備註 |
總人數上限:30人 |
Ceiba 課程網頁 |
http://ceiba.ntu.edu.tw/1032_VLSISysTesting |
課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
1. Introduction
2. Fault models
3. Design-for-test
4. Test data management
5. Test power management
6. Memory testing
7. AMS testing |
課程目標 |
本課程介紹積體電路系統測試之觀念及技術,內容包含可測試性設計(Design-for-Test)、記憶體測試、類比/混模電路測試及系統晶片測試技術,適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。 |
課程要求 |
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預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
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指定閱讀 |
"System on Chip Test Architectures," edited by L.-T. Wang, C. E. Stroud, and N. A. Touba, Morgan Kaufmann. |
參考書目 |
"VLSI Test Principles and Architectures," edited by L.-T. Wang, C.-W. Wu, and X. Wen, Morgan
Kaufmann. |
評量方式 (僅供參考) |
No. |
項目 |
百分比 |
說明 |
1. |
presentation |
10% |
in-class presentation of selected papers |
2. |
assignment |
30% |
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3. |
exam |
30% |
between midterm and final |
4. |
term project |
30% |
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週次 |
日期 |
單元主題 |
第1週 |
2015/2/26 |
Lecture: Introduction |
第2週 |
2015/3/5 |
Lecture: Fault Modeling |
第3週 |
2015/3/12 |
Discussion: Power Issues During Test<br>
Design-for-Test |
第4週 |
2015/3/19 |
Design-for-Test (cont'd) |
第5週 |
2015/3/26 |
04 Test Compression |
第6週 |
2015/4/2 |
溫書假(停課) |
第7週 |
2015/4/9 |
Presentation: A1, D1, T1 |
第8週 |
2015/4/16 |
Memory Testing |
第9週 |
2015/4/23 |
Memory Testing (cont'd)
(midterm exam week) |
第10週 |
2015/4/30 |
Presentation: A2, D2, T2 |
第11週 |
2015/5/7 |
Memory Testing (cont'd)
Adaptive Test |
第12週 |
2015/5/14 |
Adaptive Test |
第13週 |
2015/5/21 |
Presentation: T3, T4, P2
Adaptive Test (cont'd) |
第14週 |
2015/5/28 |
AMS Testing |
第15週 |
2015/6/4 |
final exam |
第16週 |
2015/6/11 |
Presentation: D3, P1, P3 |
第17週 |
2015/6/18 |
AMS Testing
Coherent Sampling |
第18週 |
2015/6/25 |
Term Project Presentation |
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